产 品 列 表
  QUALITAU
 

Infinity 器件/晶片级失效分析测量

  MIRA 模组集成型可靠性测试
  DSPT 桌上型半导体参数测试  
  FOCUSED TEST INC
 

FTI1000/2000 功率分立器件测试

  CASCADE / SUSS
 

SUSS 手动探针系统
 

SUSS 半自动探针系统
 

SUSS ProbeShield 技术
 

SUSS 专用探针系统

  NSC

BA101 IC 样品制备系统

PS102W/S 酸法器件开封机

PL101 激光开封系统

FX 系列自动开短路测试仪

RIE 反应离子刻蚀系统

  QFI (Quantum Focus Instruments)
 

微光探测显微镜

 

激光注射显微镜

 

红外热点探测仪

 
Vis-Dynamics
 
 

G6 型 包装检测仪

  AOVtech
 

缺陷位置分析系统

  NOVA
 

膜厚线宽量测仪

     
   主要产品
 
   
     
 

Qualitau – Infinity 器件 / 晶片级二氧化硅介质击穿 & 热载流子效应测量
模组型结构
高测试容量（每个电源箱至多可测试 384 个器件
并行测量原则
大功率电源（最大电流： 200mA 或 最大电压： 200V ）
不同的加压模式（恒定电压 , 恒定电流 , 阶梯电压 , 阶梯电流）
高温试验箱最高达 350 ℃ ；低温试验箱可达 -40 ℃
为您有效降低测试成本
提供高温多路晶圆片探针测试方案