产 品 列 表
  QUALITAU
 

Infinity 器件/晶片级失效分析测量

  MIRA 模组集成型可靠性测试
  DSPT 桌上型半导体参数测试  
  FOCUSED TEST INC
 

FTI1000/2000 功率分立器件测试

  CASCADE / SUSS
 

SUSS 手动探针系统
 

SUSS 半自动探针系统
 

SUSS ProbeShield 技术
 

SUSS 专用探针系统

  NSC

BA101 IC 样品制备系统

PS102W/S 酸法器件开封机

PL101 激光开封系统

FX 系列自动开短路测试仪

RIE 反应离子刻蚀系统

  QFI (Quantum Focus Instruments)
 

微光探测显微镜

 

激光注射显微镜

 

红外热点探测仪

 
Vis-Dynamics
 
 

G6 型 包装检测仪

  AOVtech
 

缺陷位置分析系统

  NOVA
 

膜厚线宽量测仪

     
   主要产品
 
   
     
 

NOVA-NovaScan3090NEXT Stand Alone Metrology 膜厚线宽量测仪器
半导体晶圆膜厚以及线宽参数测量
线宽精度达 0.5 纳米
晶圆流片速度可达 150 片 / 每小时
NovaMars 2D/3D 开发平台及高速运算平台